電磁兼容性問題

一、儀器購置的必要性
      隨著電子產品的復雜性的增加，包括工作頻率的不斷提高，小型化程度的增加，混合電路的應用等，使得電磁兼容方面的問題越來越突出。一方面產品在國家標準檢測時不容易一次過關，另一方面產品本身受到電磁兼容的影響而使得其功能不穩定，甚至功能失效等困難。
      在電磁兼容問題面前，由于目前缺少相應的調試設備，再加上工程師普遍對電磁兼容的設計和調試沒有成熟和豐富的經驗，所以，目前我們對電磁兼容的調試存在著比較大的困難。目前，基本上是比較盲目的憑經驗在進行電磁兼容的設計和調試。隨著所以產品的復雜度增加，問題將越來越明顯，我們認為，有一套方便的調試設備是很有必要的。
      國家對電子產品的電磁兼容性要求也越來越高了，我公司主要是從事醫療設備產品的研究和開發，目前，國家食品藥品監督管理局已經通過了醫療器械產品的EMC標準——YY0505－2005標準，該標準規定了醫用電氣設備的特殊的電磁兼容要求（發射或抗擾度）以及詳細的測量程序，并自2007年4月1日起強制實施。為了滿足客戶和國家的標準要求，引進一套電磁兼容測試診斷工具，是從實際需求出發，既符合相關要求，又滿足設計需要。

二、可行性分析
      現代電子產品的設計概念是“及早排除可能的隱患，第一次就把工作做好”。電磁兼容性工作已經逐步從事后檢測處理發展到預先分析評估、預先檢驗、預先設計，即在方案設計階段就有針對性的開展預測分析工作,把過去用于研制后期試驗測量和處理以及返工補救的費用，安排到加強事前設計和預測檢驗中來。但是如何才能實現這一目標呢？

一般來說，一個產品的研發包括以下幾個階段：
¨  設計前期：建立基本構想，確定系統的性能指標，進行方案的總體設計；
¨  設計期：進入方案實施階段，包括原理圖設計與PCB板圖設計；
¨  調試期：進行樣機調試，發現問題并對設計進行修改；
¨  驗證期：進行各種檢驗測試認證工作，以確保系統達到設計要求。
¨  系統聯調期：確保系統與系統能正常協同工作。

目前，市場上用于解決電磁兼容性問題的工具主要集中在以下幾個方面：
1．  設計早期階段的軟件仿真，及早進行EMC設計，并排除發生潛在的電磁輻射問題。
2．  調試過程中故障的診斷、定位和分析。
3．  標準測試前的電磁兼容預測試。
      總之，根據自身情況并結合產品的特點，在從開發期到最終定型以及到系統聯調等的不同階段采取適當的工具、方法及設備，將電磁兼容設計容入整個設計過程就會取得事半功倍的效果。

三、解決方案
      YY0505-2005（IEC60601-1-2 Ed.2）標準針對醫用電氣設備規定了的特殊的電磁兼容要求（發射或抗擾度）以及詳細的測量程序，其引用的主要標準為：
Ø    發射（Emission）:
GB 4824 (CISPR11)  工、科、醫（ISM）射頻設備電磁騷擾特性限值和測量方法；
GB 17625.1  (IEC61000-3-2)  諧波電流發射限值的測試；
GB 17625.2  (IEC61000-3-3) 電壓波動和閃爍的限值的測試；
Ø    抗擾度（Immunity）：
GB 17626.2 (IEC61000-4-2)   靜電放電（ESD）抗擾度的試驗；
GB 17626.3 (IEC61000-4-3)   輻射（射頻）電磁場抗擾度試驗；
GB 17626.4 (IEC61000-4-4)   電快速瞬變／脈沖群抗擾度試驗；
GB 17626.5 (IEC61000-4-5)   浪涌（沖擊）抗擾度試驗；
GB 17626.6 (IEC61000-4-6 )   對射頻場感應的傳導騷擾抗擾度試驗；
GB 17626.8 (IEC61000-4-8)   工頻磁場抗擾度試驗；
GB 17626.11 (IEC61000-4-11)  電壓暫降、短期中斷和電壓變化抗擾度試驗。

第一項：發射測試
1． 工、科、醫（ISM）射頻設備電磁騷擾特性限值和測量方法
參考標準：GB/T 4824-2001   CISPR 11-1997
標準要求：本標準規定了工業、科學和醫療（ISM）設備和電火花腐蝕設備的電磁騷擾特性的限值和測量方法。
輻射發射測試（GB 4824/CISPR11）——標準要求在暗室或開闊場進行測試
GB 4824（CISPR11）標準要求使用一個寬帶天線測量從產品輻射到空間中的RF能量的水平，理想情況下，該測試應該在一個開闊場或等效的環境下進行測試。沒有校準的測試場所將要求使用一個ERS量化測試場所的失真。頻率范圍30MHz到1000MHz。測試框圖如下：

      準測試方法只能給出產品是否符合標準，而對于分析輻射發射的原因和解決方案卻無能為力。而近場測量卻可以給產品開發者提供關于輻射干擾原因的重要數據，基于這些數據，你可以采取相應的措施來減少這些輻射。EMCP系列近場探頭組包括多種特制的近場探頭，用于直接對電子模塊所產生的高頻電磁場進行近場測量，以幫助減少輻射干擾。PA系列前置放大器十分適用于這些近場探頭，它使利用非常小的探頭進行測量成為可能，而且同時可以保持高的靈敏度。

配置內容：